2月探伤

纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波，又无底波，这是由于试件中存在与探测垂直的大缺陷。（）

发布于 2021-03-24 06:39:18

【判断题】

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wknu 2023-03-24

这家伙很懒，什么也没写！

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quyu1

这家伙很懒，什么也没写！

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