现场用电桥测量介质损耗因数，出现－tanδ的主要原因：①标准电容器C<sub>N</sub>有损耗，且tanδ<sub>N</sub>＞tanδ<sub>x</sub>；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响（ ）。